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CCD/CMOS光電直讀光譜儀快速發(fā)展
發(fā)布時間：2021-04-13 10:00:50 點擊：5289
近幾年來是光電直讀光譜儀發(fā)展比較迅猛的幾年，早幾年前市場上的光電直讀光譜儀機型采用的都是用光電倍增管作為檢測器，但是近幾年，進口品牌及國內(nèi)品牌不約而同采用CCD作為檢測器，后又采用CMOS，但CCD及CMOS其實概念是同樣的，此種光譜儀器在快速發(fā)展。
近年來CCD技術得到較好的發(fā)展，幾乎所有進口品牌推出了CCD產(chǎn)品。CCD和PMT是業(yè)界爭論的一個焦點，私認為這兩種技術不能簡單評判哪種更好，而是各有各的優(yōu)勢和局限性。PMT 有著噪聲低、動態(tài)范圍大等特點，應用比CCD要久遠的多，但既然CCD能夠進入光譜分析領域，一定程度上代替PMT，一定有其特有的優(yōu)勢，而這種優(yōu)勢就在于測量上，它為火花直讀光譜分析技術的發(fā)展提供了更多的可能性。它能做全譜檢測，同時在后期增加檢測基體時，也不用返廠重新進行物理更新，只需做軟件上的維護。目前，CCD技術已經(jīng)被廣泛的應用，多種檢測儀器上均采用此類檢測器。
CCD檢測器
CCD成為光譜分析儀器的重要發(fā)展方向，這一點已經(jīng)得到絕大多數(shù)人的認可，但CCD技術的廣泛利用，并不意味著PMT技術的沒落，PMT技術在目前還是有其優(yōu)勢的。任何一種新技術取代舊技術都需要一個過程。CCD面臨的主要問題是噪聲和讀出速度，如果這兩點能夠得到很好的解決，PMT很可能會退出直讀光譜市場。當然現(xiàn)在的CCD廠商都在努力克服此兩種缺點，并有一定成效。目前，ICP儀器上CCD通過制冷很好的解決了噪聲的問題，基本取代了PMT，在火花直讀光譜領域，CCD一定也能獲得相同的成績。
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